法規 問13(b) 過去問解説

(b) 小問(a)の測定により、劣化による内部素子の破壊(短絡)が発生していると判断し、機器停止のうえ各相間の静電容量を 2 端子測定法(1 端子開放で測定)で測定した。

図 2 のとおりの内部結線における素子破壊(素子極間短絡)が発生しているとすれば、静電容量測定結果の記述として、正しいものを次の(1)～(5)のうちから一つ選べ。

ただし、図中 $\times$ 印は、破壊素子を表す。